自动测试系统
作者机构：成都电讯工程学院103室
出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)
年 卷 期：1979年第5期
页 面：1-99页
学科分类：12[管理学] 120202[管理学-企业管理（含：财务管理、市场营销、人力资源管理）] 0202[经济学-应用经济学] 02[经济学] 1202[管理学-工商管理] 020205[经济学-产业经济学] 09[农学]
主 题：自动测试系统 测量设备 控制器 调节器 计算机 程控电源
摘 要：前言这份教材共包括五章,其主旨是着眼于利用接口母线联接和组成的所谓第二代自动测试系统的设计和组建。可程控测量设备是构成第二代自动测试系统的基本砖石。第一章阐述有关测量设备的程控问题,如寻址、程控指令、数据编码格式等等。本章主要是从自动测试系统的角度来讨论问题,而并不着眼于可程控测量设备本身。关于设备本身的一些控制技术,如YIG磁调、变容管电调、PIN管电控、逻辑阵列及继电器开关阵列等等,是读者所熟悉的,于此一概略而不述。第二章阐述通用接口系统的原理和逻辑设计。这一章是文献[1]的补充和深入具体化,
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