随机模式的可测试性
出 版 物：《计算机工程与科学》 (Computer Engineering & Science)
年 卷 期：1986年第1期
页 面：77-94页
主 题：切割算法 再聚合 通路 检测概率 侦破概率 可测试性 边界 扇出 随机模式 渗流模型 额外开销 概率计算 自测试
摘 要：在使用随机输入的自测试中,一个主要的问题是测试质量的检验,即,故障复盖的计算。使用全部故障模拟这个笨的方法看来是不会引起人们重视的,因为逻辑结构的规模和 CPU 时间发生了冲突。因此研究一个新方法是很有必要的。本文叙述了计算故障复盖的一个新的分析方法,这个方法比模拟快。如果故障复盖下降到某个限度,它可能识别“抗随机方式故障,修改逻辑,使故障容易检测,从而,增加随机测试的故障复盖。
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