次级离子质谱(SIMS)及其在催化中的应用
作者机构：南京大学化学系
出 版 物：《石油化工》 (Petrochemical Technology)
年 卷 期：1983年第4期
页 面：221-228页
主 题：SIMS ESCA 沸石 表面分析技术 架状硅酸盐矿物 次级离子质谱 表面相 固体表面
摘 要：一、引言次级离子质谱(Secondary Ion Mass spectrometry,简称SIMS)是七十年代新发展起来的一种表面分析技术。X光光电子能谱(ESCA)和俄歇电子能谱(AES)分别是由从表面发出的光电子和俄歇电子的能量大小来获得有关表面的组成和结构等信息的,而次级离子质谱SIMS则由从表面溅蚀(Sputter)出来的次级离子的组成来获得有关表面的信息。ESCA通常给出表面上4—30层厚度内的综合信息以及它们不能检测表面上的氢,而SIMS却能给出表面最外面的第一层的信息和
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