多种T型干扰网络及环外区对工频损耗测试的影响
作者机构：哈尔滨电工学院绝缘技术教研室
出 版 物：《电机与控制学报》 (Electric Machines and Control)
年 卷 期：1984年第1期
页 面：30-37页
摘 要：本文针对文献提出了与其相反效应的T型网络的存在,并通过计算,估计它们的综合效应并不是减效应.认为文献用以解释tgδ出现负误差的原因是不全面的.本文还列出了一些实验结果证明了环外区对测试的影响很大.并针对文献说明环外区负误差的产生并非sic的特殊作用.最后,本文认为测试中应综合考虑存在多个T型干扰网络及其它干扰(如环外区)的影响问题,并向使正负误差抵消的方向努力.
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