用头侧位X线片对平面定位的研究
A Cephalometric Study on Determining the Orientation of Occlusal Plane作者机构：华西医科大学口腔医学院修复学教研室 华西医科大学口腔医学院修复学教研室 华西医科大学口腔医学院放射科 深圳市人民医院口腔科
出 版 物：《四川大学学报(医学版)》 (Journal of Sichuan University (Medical Sciences))
年 卷 期：1993年第24卷第4期
页 面：422-425页
核心收录：
摘 要：作者应用头侧位X线片测量法,对90例有牙颌平面与50例无颌堤平面进行了测量和统计分析。结果:有牙颌平面与鼻翼下缘至耳屏中点的连线近似平行,正常有牙颌平面角与PONANS角呈负相关关系,经回归分析推导出回归方程Y=54.146-0.554X。经用该方程和临床修复效果来验征,50例全口义齿平面定位是适宜的。
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