功率传输法测量高Tc超导薄膜微波表面电阻的误差计算
AN ERROR ANALYSIS ON THE DETERMINATION OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF HIGH T;SUPERCONDUCTING THIN FILM BY POWER TRANSMISSION METHOD作者机构：南京大学信息物理学系 南京大学信息物理学系 南京大学信息物理学系 南京大学信息物理学系 南京 210008 南京 210008 南京 210008 南京 210008
出 版 物：《低温物理学报》 (Low Temperature Physical Letters)
年 卷 期：1993年第15卷第5期
页 面：369-375页
核心收录：
摘 要：将淀积于衬底上的高温超导薄膜样品置于矩形波导中,使之垂直于传输方向并充满整个横截面,测量通过样品的微波功率传输系数及相移量,便可以计算超导薄膜的复电导率σ=σ1-jσ2。表面电阻R?和穿透系数λL,此即为功率传输法。本文在给出一般算式的基础上,讨论了传输系数,相移,薄膜厚度,衬底厚度及其相对介电常数ε?等量的测量误差对于R?和λL的影响。结果表明,对膜厚的测量精度要求不高,而当衬底厚度接近该介质中的四分之一导波长时,对衬底厚度,ε?的测量要求很高;在衬底厚度接近二分之一波长时,对衬底厚度或ε?的测量精度的要求可以大大放宽。
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