作 者:堀田正美 易本忠
出 版 物:《国外计量》
年 卷 期:1982年第1期
页 面:37-39页
学科分类:0401[教育学-教育学] 04[教育学]
主 题:视差 方差分析 概率论 精度 分散性 置信范围 无偏方差
摘 要:近几年来,在质量计量中,天平的灵敏度不断提高,但是对于几 mg 的样品,要使测量精度达到μg的程度也是不容易的。在测量这种微小质量时,校准天平的砝码的精度、天平的性能、测量技术、测量环境和被测物各天平的影响,被测物的物理性质和化学性质都将产生误差。因此,要知道实际的测量精