振转谱线的压力增宽用于分子直径的测定
作者机构:中国科学院安徽光机所
出 版 物:《量子电子学报》 (Chinese Journal of Quantum Electronics)
年 卷 期:1990年第3期
页 面:261-261页
核心收录:
摘 要:本文讨论了利用分子振转跃迁谱线的压力增宽来测定分子碰撞截面以及分子直径的可能性并给出了对SF分子的测定结果,同时亦采用了文献给出的键长值以及其他分子的振转谱线压力增宽值计算
作者机构:中国科学院安徽光机所
出 版 物:《量子电子学报》 (Chinese Journal of Quantum Electronics)
年 卷 期:1990年第3期
页 面:261-261页
核心收录:
摘 要:本文讨论了利用分子振转跃迁谱线的压力增宽来测定分子碰撞截面以及分子直径的可能性并给出了对SF分子的测定结果,同时亦采用了文献给出的键长值以及其他分子的振转谱线压力增宽值计算