二项抽样模型下r/N(G)系统可靠性增长的Bayes估计
Bayes Estimate of Reliability Growth for r/N（G） System Based on Binomial Sampling作者机构：华侨大学应用数学系
出 版 物：《华侨大学学报(自然科学版)》 (Journal of Huaqiao University(Natural Science))
年 卷 期：1988年第9卷第1期
页 面：1-8页
学科分类：02[经济学] 0202[经济学-应用经济学] 020208[经济学-统计学] 07[理学] 0714[理学-统计学（可授理学、经济学学位）] 070103[理学-概率论与数理统计] 0701[理学-数学]
主 题：系统可靠性 抽样模型 Bayes 无信息 验前分布 r/N
摘 要：本文介绍在二项抽样模型下,部件可靠概率R带有验前Beta分布、验前负对数Gamma分布及其特殊情况验前U(0.1)分布和无信息验前分布,对r/N(G)系统的可靠性增长作出Bayes估计,主要结果有定理2、3、4。
同方期刊数据库