Co薄膜中CoSi化合物相转变过程观察
OBSERVATION OF CoSi PHASE TRANSFORMATION IN Co FILM作者机构:北京科技大学 北京科技大学材料物理系
出 版 物:《金属学报》 (Acta Metallurgica Sinica)
年 卷 期:1995年第16期
页 面:179-182页
核心收录:
学科分类:081702[工学-化学工艺] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术]
摘 要:Si衬底上生长的Co薄膜,经250,450,500℃退火后.用电子显微镜对Co/Si界面处CoSi化合物的相转变进行了观察结果发现CoSi为多晶颗粒.CoSi相和基体无取向关系Co/Si界面在退火温度范围内的相变过程为:250─450℃450─500℃Co2Si+Cosi─→COSi─→Cosi+CoSi2