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Co薄膜中CoSi化合物相转变过程观察

OBSERVATION OF CoSi PHASE TRANSFORMATION IN Co FILM

作     者:张灶利 肖治纲 杜国维 

作者机构:北京科技大学 北京科技大学材料物理系 

出 版 物:《金属学报》 (Acta Metallurgica Sinica)

年 卷 期:1995年第16期

页      面:179-182页

核心收录:

学科分类:081702[工学-化学工艺] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 

主  题:薄膜 CoSi 电子显微镜 

摘      要:Si衬底上生长的Co薄膜,经250,450,500℃退火后.用电子显微镜对Co/Si界面处CoSi化合物的相转变进行了观察结果发现CoSi为多晶颗粒.CoSi相和基体无取向关系Co/Si界面在退火温度范围内的相变过程为:250─450℃450─500℃Co2Si+Cosi─→COSi─→Cosi+CoSi2

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