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仅由波长测量来确定薄膜的折射率和厚度

出版物：《中国检验检测》 (China Inspection Body & Laboratory)

年卷期：1987年第1期

页面：9-13页

摘要：一、前言厚度为1μm的薄膜在光电子学领域是一种被广泛研究的对象。这类薄膜的厚度是一个重要的参数,它能够由膜屑的透射光谱用非破坏方法确定。由透射光谱还可以得到折射率n(λ)的值。透明基片上薄膜的光学透射理论已为许多工作者所研究。透射 T 的表达式通常是 n 和 d 的

本地馆藏 |

1、借阅数量：每证可借书6册，期刊2册，团体读者证可借书刊300册。 2、借阅时间：个人借期为30天，每本书可续借1次，借期为30天；团体借期为90天。 3、归还地点：3楼服务台、自助借还设备、还书箱、各分馆 4、馆际互借：读者未能在本馆获取所需文献资料，可至参考咨询阅览室服务台填写《南通市图书馆馆际互借读者申请表》，根据馆际互借协议，我馆将为读者向其他馆代借文献。馆际互借过程中所产生的费用（资料复印、邮寄费等），由读者个人承担。 5、服务电话续借：59003605 59003606 咨询：81100100 59003600

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