关于我国云纹测试方法的重要元件——密栅版的研制
作者机构：清华大学
出 版 物：《机械强度》 (Journal of Mechanical Strength)
年 卷 期：1981年第2期
页 面：56-61页
学科分类：02[经济学] 0202[经济学-应用经济学]
主 题：云纹法 密度 试件栅 栅线方向 FG 基准栅 测微光度计 测试方法 测量方法
摘 要：一、概述近年来,测定应变场的云纹方法已经在我国各高校、研究单位以及部分生产单位迅速推广开来。一些工科院校已将云纹法列入基本测试方法教学大纲。但是进行云纹测量的基本元件密栅版还没有象电测测量的电阻片那样在我国有正式商品出售。国外出售的密栅版(以下称普通版)一是价格贵,二是质量低。为满足我国云纹方法快速发展的急需,针对普通栅版
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