应用等节距光栅副的直线位移测量及其光学倍频的衍射 干涉机理
作 者：张之航
作者机构：电子工业部第45研究所
出 版 物：《电子工业专用设备》 (Equipment for Electronic Products Manufacturing)
年 卷 期：1983年第2期
页 面：1-12页
主 题：干涉场 光强度 光强分布 衍射斑 光栅副 次级光源 光学倍频 衍射波 干涉图样 夫琅和费 节距
摘 要：光学倍频是光栅式直线位移测量工程中的一项新技术。本文从光栅的付里叶频谱、衍射斑的光扰动、衍射波的出射方向以及干涉场的光强分布等方面对应用等节距光栅副的光学倍频的机理进行了初步的理论探讨,同时也对空间域内的上述倍频进行了初步的实验研究。
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