西安半坡博物馆遗址图的测制——一次使用超低空垂直摄影技术的尝试
Mapping of the historic site of Banpo museumin Xian出 版 物：《测绘通报》 (Bulletin of Surveying and Mapping)
年 卷 期：1987年第5期
页 面：20-22页
主 题：立体摄影机 三维摄影机 遗址 控制点 面积摄影 摄影比例尺 垂直摄影 西安半坡博物馆 测图仪 测绘仪器 平面精度 高程精度 近景摄影测量 量测 焦距 地形图 解析空中三角测量 测制
摘 要：本文论述采用超低空垂直摄影技术对西安半坡博物馆大厅内馆藏遗址进行的摄影测量。该工程采用联邦德国OPTON厂的SMK-120立体摄影机摄影，精密测图仪测图，成图比例尺为1：25，等高距为2cm，共制作文物地形图20幅，并进行了非量测象机的摄影测量试验。在此基础上又对实测的1：25进行了缩编，制作了比例尺为1：80的遗址图两幅。同时采用解析空中三角测量作控制点加密试验，其平面精度为±1.5cm，高程精度为±2.5cm。
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