斜切对ATGSP热释电晶体优值的影响
INFLUENCE OF OBLIQUE CUTTING OF ATGSP CRYSTAL ON THE PYROELECTRIC FIGURE OF MERIT作者机构：山东大学
出 版 物：《红外研究(A辑)》
年 卷 期：1988年第7 A卷第1期
页 面：47-50页
核心收录：
学科分类：0810[工学-信息与通信工程] 080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0803[工学-光学工程] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）]
基 金：国家自然科学基金
主 题：优值 热释电晶体 热释电 电压响应率 ATGSP 探测率 热释电探测器
摘 要：分析并测量了斜切对ATGSP热释电晶体响应率优值和探测率优值的影响,指出斜切可以增加热释电电压响应率,但不能改善其探测率。
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