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亚毫微秒领域低延迟-功率乘积的改进反馈ECL门

〈Title〉Improved Feedback ECL Gate with Low Delay-Power for the Subnanosecond Regico

作     者:HANS-MARTIN REIN ,ROLAND RANFFT ,徐兴声 

出 版 物:《计算机研究与发展》 (Journal of Computer Research and Development)

年 卷 期:1978年第1期

页      面:54-57页

主  题:射极电阻 基本单元 亚毫微秒 传播延迟 ECL 毫瓦 氧化隔离 介质隔离 摆幅 转换特性 电压增益 功耗 组装密度 乘积 

摘      要:反馈ECL门是很适合于作为高速LSI电路的基本单元。遗憾的是,对于较高电压摆幅,这种门有一个降低抗干扰的滞后(hystersis)。本文将从理论上论证如何消除滞后,以及如何用射极电阻来优化转换特性。对于这种门,用目前已有工艺的参数来模拟评价,其功耗为1.6毫瓦,传播延迟时间小于0.6毫微秒。

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