咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >TS—Ⅰ集成电路测试仪 收藏

TS—Ⅰ集成电路测试仪

作     者:邵金仙 

作者机构:骊山微电子公司 

出 版 物:《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期:1986年第12期

页      面:30-34页

学科分类:0831[工学-生物医学工程(可授工学、理学、医学学位)] 1004[医学-公共卫生与预防医学(可授医学、理学学位)] 08[工学] 10[医学] 

主  题:集成电路测试仪 TS 小规模集成电路 电路测试 微机控制 测试图形 微计算机 参数测试 功能测试 芯片测试 

摘      要: TS—I集成电路测试仪是由一台通用型微机控制的综合性的大、中、小规模集成电路测试仪,它可以测试各种类型的集成电路,适用于集成电路研究、制造、使用等单位。一、测试仪的构成TS—I测试仪由LS-77200通用型微计算机、电路测试单元(包括测试盒)和外设

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分