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薄膜隧道结的漏洞分析和金相筛选法

作者：孟小凡郭维新崔广霁

作者机构：北京大学物理系

出版物：《低温物理学报》 (Low Temperature Physical Letters)

年卷期：1979年第1期

页面：9-17页

主　　题：隧道结半导体结超导微桥漏洞分析筛选法

摘要：本文用典型隧道结与超导微桥叠加的模型讨论了漏洞对薄膜隧道结I-V曲线的影响,分析了漏洞产生的原因及其防止措施,提出了可以显著提高低温实验时隧道结成品率的简便方法——金相筛选法.

本地馆藏 |

1、借阅数量：每证可借书6册，期刊2册，团体读者证可借书刊300册。 2、借阅时间：个人借期为30天，每本书可续借1次，借期为30天；团体借期为90天。 3、归还地点：3楼服务台、自助借还设备、还书箱、各分馆 4、馆际互借：读者未能在本馆获取所需文献资料，可至参考咨询阅览室服务台填写《南通市图书馆馆际互借读者申请表》，根据馆际互借协议，我馆将为读者向其他馆代借文献。馆际互借过程中所产生的费用（资料复印、邮寄费等），由读者个人承担。 5、服务电话续借：59003605 59003606 咨询：81100100 59003600

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