用一位机调用程序的方法讨论
出 版 物：《桂林电子工业学院学报》 (Journal of Guilin University of Electronic Technology)
年 卷 期：1985年第2期
页 面：19-24页
学科分类：08[工学] 0835[工学-软件工程] 081202[工学-计算机软件与理论] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）]
主 题：数字集成电路 调用程序 锁存器 被测器件 程序段 EPROM 测试程序 测试设备 选通 电路输出
摘 要：在微处理机控制的数字集成电路的测试设备中,如何快速而准确的调用被测程序段.对测试的自动化程度有着直接的影响。本文结合用一位机控制的“数字集成电路逻辑功能测试仪,讨论用一位机调用测试程序的两种方法。经使用,该方法有快速.直观,简便的特点。
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