双光路自相关系统透反射率的重复精度测试
Repeatability of Transmittance and Reflectance Measurement of Two Path and Correlation System作者机构：中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光物理联合实验室上海201800
出 版 物：《中国激光》 (Chinese Journal of Lasers)
年 卷 期：2011年第38卷第9期
页 面：192-197页
核心收录：
学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
摘 要：设计了一台双光路自相关的透反射率测量系统,实验测试了3种不同形态激光作光源时,系统的单点透反射率重复性精度,验证了光源的功率和偏振稳定性对此系统的影响较小。在验证性分析的基础上完善了系统的稳定性,并对系统精度进行校准。实验结果显示,在置信度为95%时,系统的重复不确定性能稳定在0.04%左右,满足大口径低透射率、低反射率光学元件均匀性测量的精度要求,为此类仪器设计提供了参数选择依据。
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