非对称两嵌段高分子在选择性壁面识别吸附的Monte Carlo模拟

作     者：陈厚样 孙蕾 叶贞成 彭昌军 刘洪来 CHEN Houyang;SUN Lei;YE Zhencheng;PENG Changjun;LIU Honglai

作者机构：华东理工大学化学系化学工程联合国家重点实验室(华东理工大学)上海200237 

出 版 物：《化工学报》 (CIESC Journal)

年 卷 期：2007年第58卷第6期

页      面：1341-1347页

核心收录：

学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 070304[理学-物理化学(含∶化学物理)] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 0703[理学-化学] 

基　　金：国家自然科学基金项目(20676030 20490200) 教育部博士点基金项目(20050251004)。 

主　　题：非对称高分子 识别 选择性壁面 Monte Carlo模拟 

摘      要：采用自由空间的MonteCarlo(MC)方法研究了两嵌段非对称高分子在选择性壁面上的吸附与识别。研究表明,非对称嵌段高分子同对称嵌段高分子一样,在选择性壁面的吸附可分为吸附和识别两个过程。对高分子构型研究的结果发现,无论条纹宽度如何变化,高分子在垂直于z方向的均方回转半径总是小于其垂直另两方向的值。在条纹宽度一定的情况下,尾式构型比率随链节B与白色条纹壁面作用能ΨB-white增加先增加然后趋于不变。在ΨB-white不变的情况下,尾式构型比率则随条纹数的增加而增加。环式构型比率在条纹较宽时会随ΨB-white有一小的下降趋势,而在条纹较窄时下降幅度较大。