CMOS图像传感器的多斜率积分线性恢复方法

作     者：罗潇磊 孙德新 LUO Xiaolei;SUN Dexin

作者机构：中国科学院上海技术物理研究所上海200083 中国科学院大学北京100049 

出 版 物：《半导体光电》 (Semiconductor Optoelectronics)

年 卷 期：2016年第37卷第3期

页      面：418-422页

学科分类：080202[工学-机械电子工程] 08[工学] 0802[工学-机械工程] 

基　　金：国家"863"计划项目(2014AA123201) 

主　　题：CMOS图像传感器 多斜率积分线性恢复 动态范围 响应线性度 

摘      要：针对CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)图像传感器成像系统中普遍存在的动态范围小和响应线性度差的问题,提出了一种兼顾图像传感器动态范围及响应线性度的方法——多斜率积分线性恢复。该方法在固定复位电压值的多斜率积分基础上,通过测得传感器的分段响应临界值,得出分段响应与线性响应映射关系,根据该映射关系对实测图像数据进行线性恢复。通过采用具体成像系统,对比使用该方法前后的成像质量和直方图统计后得出:不同的分段积分参数对线性恢复的影响不同,在合适的参数下,该方法能够有效地提高CMOS图像传感器的动态范围及响应线性度。