多层电流片中双撕裂模耦合的压强效应
PRESSURE INFLUENCES ON THE COUPLING OF DOUBLE TEARING MODE IN A MULTIPLE CURRENT SHEET作者机构：中国科学技术大学地球和空间科学系合肥230026
出 版 物：《地球物理学报》 (Chinese Journal of Geophysics)
年 卷 期：2001年第44卷第2期
页 面：145-153页
核心收录：
学科分类：070802[理学-空间物理学] 07[理学] 0708[理学-地球物理学]
基 金：国家自然科学基金!资助项目 ( 49774 2 4 3 4 983 4 0 3 0 4 0 0 0 4 0 0 6)
主 题：多导电流片 双撕裂模不稳定性 压强效应 等离子体 耦合作用
摘 要：应用边界层理论研究了等离子体压强对多层电流片中m≥ 2的双撕裂模耦合的线性和非线性发展行为的影响 .考虑等离子体的压强效应 ,在一阶近似下 ,解析求得了环位形中双撕裂模的外区匹配参数Δ′.结果表明 ,当等离子体 β 1时 ,等离子体压强对双撕裂模的两有理面模之间通过撕裂模外区发生耦合作用的线性行为没有定性影响 .虽然等离子体压强将影响双撕裂模耦合的非线性行为 ,但是主要表现在对其单模项的影响 ,而对由于两有理面模之间的耦合作用产生的耦合项的影响却很小 .
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