低温等离子体原子化器-原子荧光光谱法测定碲

作     者：别克赛力克·库尔买提 王娟 韩国军 邢志 Biekesailike·Kuermaiti;WANG Juan;HAN Guo-Jun;XING Zhi

作者机构：清华大学化学系 新疆伊犁州产品质量检验所 

出 版 物：《分析化学》 (Chinese Journal of Analytical Chemistry)

年 卷 期：2010年第38卷第3期

页      面：357-361页

核心收录：

学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 

基　　金：国家自然科学基金(NO.20775041)资助项目 

主　　题：介质阻挡放电 低温原子化器 原子荧光 碲 土壤 

摘      要：基于介质阻挡放电(DBD)原理和结构,建立了适用于原子荧光光谱仪(AFS)的低温等离子体小型原子化器(Atomizer),并研究了氢化物发生-低温等离子体原子化器-原子荧光光谱(HG-DBDAtomizer-AFS)测定环境样品中痕量碲(Te)的分析方法。DBD等离子体原子化器具有小型、低温等优点。对DBD放电结构和放电功率、载气气体流速,氢化物发生过程中的酸度、KBH4浓度,以及观测高度等实验条件进行了详细的考察并优化。本系统测定Te的检出限(3σ)为0.08μg/L;线性范围为0.5～80μg/L;测定精密度为2.1%(n=7);加标回收率为90%～103%。对国家级标准样品(GBW07404,GBW07405,GBW07406)进行测定,测定结果与标准值一致,证明本方法准确可行。