晶体晶片的测试技术
作者机构：国营第七九五厂计量所
出 版 物：《工业计量》 (Industrial Metrology)
年 卷 期：2011年第S2期
页 面：41-43页
学科分类：081702[工学-化学工艺] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术]
摘 要：晶片是晶体的主要材料,加工的质量直接影响着晶体的质量优劣,其加工要靠研磨料来完成,在一边研磨一边测试的过程中,表面附着物会影响晶片频率的测试,测试条件差,需要有宽频测试和激励强的电路完成晶片研磨过程的频率测试。
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