一种基于灰阶基底的涂料遮盖力测试新方法
A Novel Measurement Method of Hiding Power for Pigmented Material Based on Gray Level Substrate作者机构:浙江大学现代光学仪器国家重点实验室浙江杭州310027 Department of Colour Science University of Leeds Leeds LS2 9JT UK
出 版 物:《光学学报》 (Acta Optica Sinica)
年 卷 期:2009年第29卷第1期
页 面:281-284页
核心收录:
学科分类:070207[理学-光学] 0808[工学-电气工程] 07[理学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0702[理学-物理学]
摘 要:目前涂料遮盖力测试中普遍使用改变涂料厚度的方法。为提高测试的效率和精度,提出了改变基底样式并采用不同灰阶基底的遮盖力测试方法。基于对光线入射到薄膜后传播过程的分析,结合唯象理论,系统分析了专用基底上涂膜前后的CIELAB色差变化,采用数学方法模拟出涂料的遮盖表现,进而实现遮盖力的测试。与已有的德国标准化协会(DIN)方法、美国测试与材料协会(ASTM)方法以及光谱估计方法的实验比较表明,新方法能够准确、快捷地测试遮盖力,与DIN方法的参照结果相比其相对测试精度可达0.1%~11%,优于ASTM和光谱评估方法,且对彩色涂料和非彩色涂料具有同样的可操作性。