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一种基于灰阶基底的涂料遮盖力测试新方法

A Novel Measurement Method of Hiding Power for Pigmented Material Based on Gray Level Substrate

作     者:王华 徐海松 Jim Nobbs M.Ronnier Luo Wang Hua;Xu Haisong;Jim Nobbs;M. Ronnier Luo

作者机构:浙江大学现代光学仪器国家重点实验室浙江杭州310027 Department of Colour Science University of Leeds Leeds LS2 9JT UK 

出 版 物:《光学学报》 (Acta Optica Sinica)

年 卷 期:2009年第29卷第1期

页      面:281-284页

核心收录:

学科分类:070207[理学-光学] 0808[工学-电气工程] 07[理学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0702[理学-物理学] 

主  题:视觉与色彩 涂料 遮盖力 基底样式 数学模拟 

摘      要:目前涂料遮盖力测试中普遍使用改变涂料厚度的方法。为提高测试的效率和精度,提出了改变基底样式并采用不同灰阶基底的遮盖力测试方法。基于对光线入射到薄膜后传播过程的分析,结合唯象理论,系统分析了专用基底上涂膜前后的CIELAB色差变化,采用数学方法模拟出涂料的遮盖表现,进而实现遮盖力的测试。与已有的德国标准化协会(DIN)方法、美国测试与材料协会(ASTM)方法以及光谱估计方法的实验比较表明,新方法能够准确、快捷地测试遮盖力,与DIN方法的参照结果相比其相对测试精度可达0.1%~11%,优于ASTM和光谱评估方法,且对彩色涂料和非彩色涂料具有同样的可操作性。

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