密度梯度离心分离法研究银纳米片边缘晶面的反应活性

作     者：张国新 黄凤琴 罗亮 孙晓明 ZHANG GuoXin;HUANG FengQin;LUO Liang;SUN XiaoMing

作者机构：北京化工大学理学院北京100029 

出 版 物：《北京化工大学学报（自然科学版）》 (Journal of Beijing University of Chemical Technology(Natural Science Edition))

年 卷 期：2013年第40卷第4期

页      面：24-29页

核心收录：

学科分类：07[理学] 070304[理学-物理化学(含∶化学物理)] 0817[工学-化学工程与技术] 0703[理学-化学] 

基　　金：国家自然科学基金(21101012) 中央高校基本科研业务费(ZY1121) 

主　　题：密度梯度离心 纳米银片 刻蚀反应 晶面活性 

摘      要：利用密度梯度法对纳米银片进行离心分离,在分离过程中使用巯基乙醇对银片进行轻度刻蚀。用透射电镜、紫外可见分光光度计对分离后的各层样品进行表征,结果表明:不同尺寸的银纳米片的边缘具有不同的反应活性,不同晶面的晶区大小同样影响银纳米片的反应活性;在银片边长为(135±5)nm时存在一个尺寸阈值,低于此尺寸阈值,银片(110)晶面的反应活性高于(100)晶面的活性,而高于此尺寸阈值,(100)晶面的活性高于(110)晶面的活性。