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模拟电路性能退化型故障诊断方法研究

Research on degraded fault diagnosis method for analog circuit

作     者:马翔楠 徐正国 王文海 孙优贤 Ma Xiangnan;Xu Zhengguo;Wang Wenhai;Sun Youxian

作者机构:浙江大学信息学部控制科学与工程学系杭州310027 

出 版 物:《电子测量与仪器学报》 (Journal of Electronic Measurement and Instrumentation)

年 卷 期:2013年第27卷第1期

页      面:32-37页

核心收录:

学科分类:08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)] 

基  金:国家自然科学基金(61004074 61134001)资助项目 

主  题:模拟电路 故障诊断 灵敏度 网络撕裂法 性能退化 

摘      要:为了研究线性模拟电路的性能退化型故障诊断问题,通过构造比较电路,提出了一种基于节点电压灵敏度分析的故障字典建立方法,并结合网络撕裂法实现了多个故障元件的定位和故障参数的辨识。测量可及测试点的电压,计算原电路和比较电路的电压增量之比即可定位故障元件,求解节点电压增量方程可得到故障元件的参数漂移量。仿真结果表明,故障参数辨识的平均误差为7.76%,验证了本方法的有效性。

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