利用无损压缩降低循环冗余校验的错误漏检率及其电路实现

作     者：董刚 杨海钢 Dong Gang;Yang Hai-gang

作者机构：中国科学院电子学研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 

出 版 物：《电子与信息学报》 (Journal of Electronics & Information Technology)

年 卷 期：2010年第32卷第3期

页      面：705-709页

核心收录：

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 

主　　题：可靠性电路 霍夫曼编码 CRC编码 无损数据压缩 

摘      要：循环冗余校验(CRC)算法在很多领域都有广泛的应用。对于确定格式的CRC校验码生成多项式,其错误漏检率基本为确定值。因此待检数据的长度越大,出现错误而不会被检测到的机会也就越多。为了解决这方面存在的问题,该文利用无损压缩霍夫曼算法缩短待测数据的长度,从而降低了数据出错之后不能被检测到的概率。并设计出相应的可靠性校验电路。与单纯使用CRC校验的方法相比,该文提出的方法可以将出错的几率下降为原来的万分之一以下。设计得到的电路模块可以作为VLSI中的可靠性电路模块(IP)加以利用。