基于InP/InGaAs肖特基二极管的高灵敏太赫兹探测器
High sensitivity terahertz detectors based on the InP/InGaAs Schottky Barrier Diodes作者机构:中国科学院微电子研究所北京100029
出 版 物:《太赫兹科学与电子信息学报》 (Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology)
年 卷 期:2025年第23卷第1期
页 面:40-43页
学科分类:080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学]
主 题:太赫兹检测器 肖特基二极管(SBDs) T型结 无衬底单台面
摘 要:InP/InGaAs肖特基二极管(SBDs)探测器因其高电子迁移率和低势垒材料特性,具有非常高的电压响应灵敏度,广泛用于高灵敏太赫兹波探测技术中。为进一步降低器件寄生效应,提升其高频性能,本文提出一种无衬底单台面T型结新型结构的肖特基器件,器件的截止频率为9.5THz。基于新型结构的InP/InGaAs肖特基器件技术,研制了220~330GHz、30~500GHz、400~600 GHz和500~750 GHz等多频段的太赫兹探测器模块。其中220~330 GHz频段太赫兹检测器模块与美国VDI公司的同频段检测器模块相比,检测灵敏度等指标相近。该器件在太赫兹安检成像应用中具有很好的应用前景。