神龙一号轫致辐射靶靶区回流离子测量

作     者：禹海军 程健 朱隽 陈楠 戴文华 

作者机构：中国工程物理研究院流体物理研究所四川绵阳621900 中国科学技术大学信息技术学院合肥230027 

出 版 物：《强激光与粒子束》 (High Power Laser and Particle Beams)

年 卷 期：2010年第22卷第2期

页      面：421-424页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 082701[工学-核能科学与工程] 0827[工学-核科学与技术] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国防科技基础研究基金项目 

主　　题：直线感应加速器 束靶作用 回流离子 法拉第筒 

摘      要：神龙一号直线感应加速器(LIA)产生的强流高功率的脉冲电子束与X光转换靶作用后可以产生高剂量的X光,同时由于转换靶的被烧蚀破坏在靶面产生回流离子,该回流离子的存在影响到电子束的聚焦。设计了4套法拉第筒及其对应的偏压电路,法拉第筒被放置在神龙一号X光转换靶上游不同位置,分布在电子束轴线两侧,电路设计最高偏压为1 kV;对神龙一号LIA的X光转换靶面产生的回流离子进行了实验测量,分别得到回流正离子密度约在1021/m3,离子运动速度可达2～3 mm/s。计算比较表明,该离子流强度与神龙一号靶前电子束流相差很大,只有电子束流强的0.27%,对神龙一号电子束聚焦不会造成影响。