不同厚度ST401中子能谱响应测量与分析

作     者：李阳 张艳红 盛亮 张美 姚志明 段宝军 赵吉祯 郭泉 严维鹏 李国光 胡佳琦 李豪卿 李郎郎 Li Yang;Zhang Yan-Hong;Sheng Liang;Zhang Mei;Yao Zhi-Ming;Duan Bao-Jun;Zhao Ji-Zhen;Guo Quan;Yan Wei-Peng;Li Guo-Guang;Hu Jia-Qi;Li Hao-Qing;Li Lang-Lang

作者机构：西北核技术研究所强脉冲辐射模拟与效应全国重点实验室西安710024 清华大学工程物理系北京100084 

出 版 物：《物理学报》 (Acta Physica Sinica)

年 卷 期：2024年第73卷第23期

页      面：89-96页

核心收录：

学科分类：082704[工学-辐射防护及环境保护] 08[工学] 0827[工学-核科学与技术] 082701[工学-核能科学与工程] 

基　　金：国家自然科学基金(批准号:12175183) 国防科技卓越青年科学基金(批准号:JQZQ021901)资助的课题 

主　　题：塑料闪烁体 中子能谱响应 边界效应 

摘      要：在MeV能段脉冲中子测量中,塑料闪烁体是应用最为广泛的一种材料,其中子能谱响应是脉冲中子能谱测量所需的关键数据.基于中国散裂中子源白光中子束线,使用飞行时间法测量了0.5—10 mm共5种不同厚度塑料闪烁体ST401对0.5—100 MeV能段的中子能谱响应曲线,分析了束内伽马、伽马闪产生的闪烁体慢成分和中子源脉宽对中子能谱响应的影响.受有限体积闪烁体边界效应影响,不同厚度中子能谱响应曲线形状接近对数曲线,质子逃逸是闪烁体能谱响应曲线偏离线性的主要原因,闪烁体越厚,偏离线性的中子能量越高.