基于SDD与DPP的X荧光分析及其在光伏硅杂质元素分析中的应用

作     者：宁方敏 徐建元 谭继廉 徐惠忠 田宇紘 NING Fang-min;XU Jian-yuan;TAN Ji-lian;XU Hui-zhong;TIAN Yu-hong

作者机构：烟台大学烟台264005 电子科技大学成都610054 中科院近代物理研究所兰州730000 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2010年第30卷第12期

页      面：1637-1640页

核心收录：

学科分类：081702[工学-化学工艺] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 

主　　题：X荧光分析 SDD硅漂移探测器 DPP数字脉冲处理器 光伏硅 杂质 元素分析 

摘      要：采用硅漂移探测器(SDD)和DPP数字脉冲处理器(DPP)相结合,以及双靶X光管激发系统的X荧光分析方法,测定了光伏硅中杂质元素的含量,并采用不同含量的国家标准物质元素,对其最低检测限、精密度、准确度、稳定性等进行了实验,以检验所研制设备及所建立方法的可行性和实用性。研究结果表明,运用该设备及方法所测得的数据,可满足欧盟ARTIST计划和美国太阳能工业协会对光伏硅中杂质元素的限制要求。