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离子膜富集-XRFA法测定Cr(Ⅲ)和Cr(Ⅵ)

DETERMINATION OF CHROMIUM (Ⅲ) AND CHROMIUM (Ⅵ) BY XRFA WITH IONIC EXCHANGE FILMS PRECONCENTRATION

作     者:邱林友 赵尔燕 

作者机构:昆明工学院测试分析中心昆明650093 云南省技术监督局昆明650223 

出 版 物:《光谱学与光谱分析》 (Spectroscopy and Spectral Analysis)

年 卷 期:1993年第13卷第5期

页      面:111-112,62页

核心收录:

学科分类:081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 0703[理学-化学] 070301[理学-无机化学] 

主  题:痕量 富集 铬离子 价态 XRFA法 

摘      要:本文利用离子交换膜富集和分离Cr(Ⅲ)与Cr(Ⅵ),并用XRFA法测定。

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