多通道电离过程中光电子角分布的干涉分析
Analysis of the interference pattern of the photoelectronic angular distribution with multi-path ionization作者机构：陕西师范大学物理学与信息技术学院陕西西安710062
出 版 物：《陕西师范大学学报（自然科学版）》 (Journal of Shaanxi Normal University：Natural Science Edition)
年 卷 期：2009年第37卷第2期
页 面：29-32页
核心收录：
学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
摘 要：基于光电子成像光谱技术原理,研究了双光子共振三光子电离方法获得的光电子成像图谱.着重分析了多通道电离过程中光电子的干涉作用对成像光谱的影响.结果表明,多通道电离过程中产生的光电子角分布与激发态的能态特点有关.
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