基于自动测试生成的寄存器分配算法
Register assignment algorithm targeting automatic test pattern generation作者机构：清华大学微电子所北京100084
出 版 物：《清华大学学报（自然科学版）》 (Journal of Tsinghua University(Science and Technology))
年 卷 期：2001年第41卷第1期
页 面：111-114页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：提出了在寄存器分配时考虑可测性的一个新算法。它采用前向 /后向算法 ,将一个已调度好的 CDFG (ControlData Flow Graph)中的变量分配到相应的寄存器。通过对变量生命时间定义的扩展 ,本算法可以对带反馈的电路进行处理。在定义变量之间的寄存器复用相关函数时同时考虑了 3个准则 ,达到提高设计可测性的目的。
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