离子收集法测量α粒子技术在α表面污染测量中的应用初探
The Basic Discussion of the Application of Ion Collection Method Measuring α Particles in the α Surface Contamination Measurernent作者机构:中国辐射防护研究院太原030006
出 版 物:《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)
年 卷 期:2012年第32卷第2期
页 面:210-212页
核心收录:
学科分类:082704[工学-辐射防护及环境保护] 08[工学] 0827[工学-核科学与技术]
摘 要:介绍了离子收集法测量α粒子的原理,初步探讨了这种技术将来在α表面污染测量工作中的应用前景。