新疆某铍矿床工业铍矿物的微区原位鉴定
MICRO IN SITU IDENTIFICATION OF THE INDUSTRIAL BERYLLIUM MINERAL IN THE BERYLLIUM DEPOSIT,XINJIANG,CHINA作者机构:核工业北京地质研究院北京100029
出 版 物:《矿物岩石》 (Mineralogy and Petrology)
年 卷 期:2010年第30卷第4期
页 面:12-16页
核心收录:
学科分类:0709[理学-地质学] 081803[工学-地质工程] 0819[工学-矿业工程] 07[理学] 070901[理学-矿物学、岩石学、矿床学] 08[工学] 0818[工学-地质资源与地质工程] 0708[理学-地球物理学] 0816[工学-测绘科学与技术]
主 题:电子探针 背散射电子图像 微区X射线衍射 羟硅铍石 铍矿床
摘 要:通过电子探针分析仪和微区X射线衍射仪的联合应用,对新疆某铍矿床的铍矿物存在形式进行研究,结果表明:电子探针背散射图像观察和X射线能谱定性分析确定铍矿物的电子探针鉴定标志:铍矿物的灰度比石英暗,X射线能谱图中仅显示Si和O元素的峰,且O元素的峰高大于Si元素的峰高。通过LDE3H分光晶体测试,该矿物在177.384mm处存在明显的Be元素Kα谱峰。电子探针半定量分析结果显示,该矿物中Si和O元素的质量分数分别为21.93%和60.06%,与羟硅铍石的理论值[w(Si):23.53%,w(O):60.50%]相近。通过微区X射线衍射的分析,样品谱图与PDF卡片号为01-087-0669的羟硅铍石的谱图一致,最终确定该矿床的工业铍矿物为羟硅铍石。