荧光寿命的正弦调制测量法及分析

作     者：冯颖 黄世华 FENG Ying;HUANG Shi-hua

作者机构：北京交通大学光电子技术研究所发光与光信息技术教育部重点实验室北京100044 

出 版 物：《光谱学与光谱分析》 (Spectroscopy and Spectral Analysis)

年 卷 期：2007年第27卷第12期

页      面：2523-2526页

核心收录：

学科分类：07[理学] 0804[工学-仪器科学与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金项目(10374002 10434030)资助 

主　　题：荧光寿命 相移法 高次谐波分量 多指数衰减 

摘      要：设计并制作了光强调制度和频率可调的发光二极管驱动电路,应用这种激励源激发荧光样品Eu2L′***2O(L′=C4H4O4),测量了激发光和Eu3+离子的5D0—7F2发射光的波形。实验得到的数据用按照相位法测量荧光寿命的原理用非线性最小平方曲线拟合,得到Eu3+离子激发态5D0的寿命约为0.680ms。讨论了光源调制中的高次谐波分量对测量结果的影响以及寿命具有一定分布的多指数衰减体系的测量和处理方式,提出应用傅里叶级数展开处理数据的修正方法,以扩大相位法测量荧光寿命的适用范围,得到更准确的荧光寿命值。