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基于双波段作物长势分析仪的东北水稻长势监测

Monitoring of rice plant growth in Northeast China using dual-wavebands crop growth analyzer

作     者:李修华 李民赞 崔笛 苗宇新 Li Xiuhua;Li Minzan;Cui Di;Miao Yuxin

作者机构:中国农业大学现代精细农业系统集成研究教育部重点实验室北京100083 中国农业大学资源与环境学院北京100083 

出 版 物:《农业工程学报》 (Transactions of the Chinese Society of Agricultural Engineering)

年 卷 期:2011年第27卷第8期

页      面:206-210页

核心收录:

学科分类:0710[理学-生物学] 0828[工学-农业工程] 08[工学] 0802[工学-机械工程] 0801[工学-力学(可授工学、理学学位)] 

基  金:国家自然科学基金项目(U0931001)和(31071330)联合资助 

主  题:监测 氮肥 作物 RVI NDVI 氮肥胁迫 长势 

摘      要:为了实现水稻精细栽培和变量管理的目的,利用独立开发的双波段作物长势分析仪,进行了水稻生长监测的试验与分析。传感器分别在610与1220nm处测量太阳光与作物冠层反射光的强度,进而计算光谱反射率。利用双波段作物长势分析仪于2008年在黑龙江省农垦总局建三江分局2处水稻试验田,在分蘖期与抽穗早期进行了氮肥胁迫试验,结果表明水稻叶片氮浓度及生物质干质量与RVI、NDVI都具有很高的相关性,但与NDVI的相关性比与RVI的更高。分蘖期的测量结果表明,NDVI与施肥量的相关性非常显著,R2大于0.94。但NDVI并不与施肥量成线性相关,过量的施氮量反而会引起NDVI值的降低。分蘖期、抽穗早期的NDVI值都与最终产量有着显著的相关,其中抽穗早期的NDVI与产量的决定系数(R2)达到了0.96。分析结果显示利用双波段作物长势分析仪监测水稻冠层,可达到控制投入和提高产量的目的,为水稻的精细栽培提供理论与技术支持。

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