基于图像处理的IC探针表面缺陷检测算法研究
作者机构：江西理工大学机电工程学院
出 版 物：《硅谷》 (Silicon Valley)
年 卷 期：2011年第8期
页 面：59-60页
学科分类：08[工学] 080203[工学-机械设计及理论] 0802[工学-机械工程]
摘 要：提出一套针对微小探针表面缺陷的检测算法流程,实验结果表明该算法可以有效地提取探针表面缺陷特征,并进行识别和分类。
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