利用STM和CV方法测定有机发光材料的能带参数

作     者：付慧英 邱伟民 蔡臻炜 肖斐 邵丙铣 FU Hui-ying;QIU Wei-min;CAI Zhen-wei;XIAO Fei;SHAO Bing-xian

作者机构：复旦大学材料科学系上海200433 

出 版 物：《发光学报》 (Chinese Journal of Luminescence)

年 卷 期：2006年第27卷第4期

页      面：566-570页

核心收录：

学科分类：0810[工学-信息与通信工程] 081704[工学-应用化学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 081001[工学-通信与信息系统] 

基　　金：上海市科委资助项目(015261049) 

主　　题：有机发光材料 扫描隧道显微镜 扫描隧道谱 电化学 循环伏安 

摘      要：利用扫描隧道显微镜/扫描隧道谱(STM/STS)的技术,研究了有机发光材料A lq3、DPN-2CN和DNP-2CN的表面电子结构。将材料DPN-2CN和DNP-2CN的表面电子结构与A lq3的表面电子结构进行对比,判定了DPN-2CN和DNP-2CN的最低空轨道(LUMO)能级。通过电化学循环伏安(CV)法,对DPN-2CN和DNP-2CN的LUMO能级和最高占有轨道(HOMO)能级进行了表征。两种测试方法所得到的LUMO能级参数基本一致。