用扫描隧道显微技术实现原子识别的原理初探
The Discrimination of Atoms Using Scanning Tunneling Microscopy(STM)
作 者：李艳宁 傅星 胡小唐 Li Yanning;Fu Xing;Hu Xiaotang
作者机构：天津大学精仪学院
出 版 物：《仪器仪表学报》 (Chinese Journal of Scientific Instrument)
年 卷 期：1998年第19卷第4期
页 面：373-376页
核心收录：
学科分类：08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程]
基 金：国家自然科学基金 博士点基金
主 题：原子识别 扫描隧道显微镜 功函数 局域态密度
摘 要：本文阐述用扫描探针显微技术获取样品表面功函数、局域态密度以及原子表观半径的基本理论和方法，提出了根据这些表面信息进行原子识别的基本思想。
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