在大量同质异位素干扰下的同位素稀释质谱法测定^(173)Lu和^(174)Lu

作     者：徐江 朱凤蓉 李志明 王长海 翟利华 黄能斌 万可友 任向军 XU Jiang;ZHU Feng-rong;LI Zhi-ming;WANG Chang-hai;ZHAI Li-hua;HUANG Neng-bin;WAN Ke-you;REN Xiang-jun

作者机构：西北核技术研究所西安710024 

出 版 物：《核化学与放射化学》 (Journal of Nuclear and Radiochemistry)

年 卷 期：2007年第29卷第1期

页      面：27-31页

核心收录：

学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 

主　　题：同质异位素干扰 ^173Lu ^174Lu热表面电离同位素稀释质谱法(ID-TIMS) 

摘      要：当2种以上元素在热表面电离质谱计(TIMS)蒸发带表面蒸发时,蒸气中各元素的比例随着蒸发带加热电流的变化而变化,相应质量数处离子流的比值也随之发生变化。据此原理,建立了大量同质异位素干扰下的同位素分析方法。该方法的可靠性在同质异位素干扰量为1 000倍的情况下得到了实验验证。结合该方法和热表面电离同位素稀释质谱法(ID-TIMS)分析了大量173Yb和174Yb干扰下放射性核素173Lu和174Lu在溶液中的浓度,173Lu和174Lu合成标准不确定度分别为0.45%和1.1%。