能谱仪（EDS）无标样分析程序背底扣除的实验技术
作者机构：华南理工大学测试中心
出 版 物：《电子显微学报》 (Journal of Chinese Electron Microscopy Society)
年 卷 期：1994年第13卷第6期
页 面：508-508页
核心收录：
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学]
摘 要：能谱仪（ＥＤＳ）无标样分析程序背底扣除的实验技术张大同（华南理工大学测试中心，广州５１０６４１）利用无标样分析程序计算样品成分，必须精确地扣除背底。能谱背底是由样品中产生的连续谱Ｘ射线所形成。Ｆｉｏｒｉ等考虑连续谱被样品基体和探测器的吸收，提出背底模...
维普期刊数据库
同方期刊数据库