UC3525用于光电测量系统的反馈控制
Application of UC3525 to feedback control of photoelectric measuring system作者机构：西安交通大学
出 版 物：《半导体光电》 (Semiconductor Optoelectronics)
年 卷 期：1998年第19卷第6期
页 面：383-385页
学科分类：080901[工学-物理电子学] 080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程]
摘 要：首次将脉宽调制控制芯片（ＵＣ３５２５）用于激光扫描测量系统，解决了激光扫描测量中因不同材料对激光的散射光强不同、不同曲面对激光光强反射各异以及物体表面镜面反射等问题给测量精度带来的严重影响［１］，利用激光扫描系统中的摄像机直接作为光强反馈系统，实现了测量过程中的光强自动控制，有效地降低了光强饱和等问题给测量带来的误差。
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