GexAsySe1-x-y硫系玻璃薄膜拉曼光谱分析

作     者：李宬汉 王丽 甘渝林 苏雪琼 Li Chenghan;Wang Li;Gan Yulin;Su Xueqiong

作者机构：北京工业大学应用数理学院北京100124 

出 版 物：《激光与光电子学进展》 (Laser & Optoelectronics Progress)

年 卷 期：2016年第53卷第2期

页      面：250-255页

核心收录：

学科分类：08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 

基　　金：国家自然科学基金(11474014) 北京市教育委员会科技计划重点项目(Kz2011100050010) 

主　　题：薄膜 Ge—As—Se硫系玻璃 分峰拟合 拉曼光谱 化学结构 

摘      要：采用热蒸镀法，在石英基底上制备了不同化学组分的GexAsySe1-x-y硫系玻璃薄膜，并对其拉曼光谱进行测量，旨在分析化学组分对薄膜内部结构的影响。分析了波数位于100—350cm。范围内薄膜拉曼光谱的演变，用高斯曲线对拉曼光谱进行分峰拟合。结果表明，样品在190cm-1处Ge-Se振动模式随着Ge和As含量的增加而变强；随着平均配位数（McN）的增加，As-Se振动模式减弱，位于225cm-1和250cm-1处的两个拉曼峰逐渐合并，并向高波数区域延伸；在Ge含量高的样品中，170—180cm-1处的拉曼峰是由薄膜内部键缺陷造成的。