机内测试虚警原因的分析及其解决方案
Causes and Solutions to Built-in Test False Alarm作者机构：国防科技大学机电工程与自动化学院长沙410073
出 版 物：《振动．测试与诊断》 (Journal of Vibration,Measurement & Diagnosis)
年 卷 期：2002年第22卷第1期
页 面：37-42页
核心收录：
学科分类：1002[医学-临床医学] 08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0826[工学-兵器科学与技术] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 082503[工学-航空宇航制造工程] 0802[工学-机械工程] 0703[理学-化学] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0801[工学-力学（可授工学、理学学位）] 0702[理学-物理学]
基 金："九五"国防预研资助项目
主 题：机内测试 故障诊断 虚警率 武器系统 原因分析 机载电子设备
摘 要：按照机内测试 (BIT)的设计、生产、运行和维修这个设备全寿命周期的时间历程 ,对BIT各个阶段的虚警原因进行了总结 ,并针对BIT各阶段的虚警原因 ,从BIT设计、BIT硬件、BIT软件、管理与人和环境因素等五个方面提出了一个较为系统和完整的BIT虚警问题解决方案。这为武器装备的测试和维修的深入研究打下了基础 ,对BIT的广泛应用具有指导意义。
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