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实验评估全息凹面光栅平场摄谱仪

Experimental Evaluation of Flat-Field Spectrograph with a Holographic Concave Grating

作     者:沈为民 包仁 

作者机构:苏州大学信息光学工程研究所 

出 版 物:《光学技术》 (Optical Technique)

年 卷 期:1998年第24卷第1期

页      面:20-22,19页

核心收录:

学科分类:08[工学] 0803[工学-光学工程] 

主  题:全息凹面光栅 平场 摄谱仪 性能评估 多通道 

摘      要:阐述SPD-I型全息凹面衍射光栅平场摄谱仪的基本工作原理和仪器结构,详细报导了该仪器的适用波长范围、平直谱面长度、倒数线色散率和光谱带宽等主要技术性能的光学测试方法和实验结果。测量结果表明在设计波长范围(400至800mm)内像差校正良好,获得的平直谱面可与光敏面长度为一英寸(23.5cm)的多通道探测器相配;仪器的色散相当均匀(约17nm/mm),在579.96nm波长处测得的光谱带宽为1nm,能满足一般光学多通道分析仪的要求。

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