MC-ICP-MS法测量铀同位素丰度UH峰校正方法研究

作     者：谢卫华 靳姗 陈禄敏 许杰 张海路 

作者机构：中国工程物理研究院材料研究所 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2024年

学科分类：082704[工学-辐射防护及环境保护] 081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0827[工学-核科学与技术] 0703[理学-化学] 

主　　题：U 同位素丰度比 UH峰校正 

摘      要：由于多接收电感耦合等离子体质谱（MC-ICP-MS）法具有基体耐受性强、精密度高和仪器测量快速的优点，使得采用MC-ICP-MS法分析铀同位素丰度的应用越来越广泛。但是，在MC-ICP-MS法测量铀同位素丰度的分析中，水溶液进样会产生UH多原子离子，而伴随235U+产生的极微量的235UH+，在质荷比（m/z）为236处与236U+形成质量双峰，这对于小丰度236U的准确测量会产生干扰，影响236U丰度测量的准确性。本文建立了针对小丰度236U准确测定的UH校正方法，采用该校正方法测量铀同位素丰度，n(236U)/n(235U) 丰度比测定下限为4×10-6，测量n(236U)/n(235U) 丰度比为2.20×10-5的样品时，相对传统热电离质谱法（TIMS）误差小于3×10-6，相对标准偏差小于4%。